工业计算机断层扫描 (CT) 越来越多地被应用于坐标计量学。迄今为止,这项技术主要在医学和无损检测中使用,这种技术可以在不破坏被检查对象的情况下,以非接触方式测量组件的外部和内部几何特征,例如空腔。


这为产品的开发和质量控制提供了很好的机会,但测量仍然需要很长时间,而且往往会存在不精确的问题。因此,德国联邦物理技术研究院 (PTB)与欧洲研究合作伙伴一起,开发了可显着改善工业计算机断层扫描测量的方法,最重要的是使它们更快、更准确。


工业计算机断层扫描测量方法被研究人员改善了,将准确度提高了2-8倍

尺寸只有 5 毫米左右的工件是注射喷嘴的一部分。PTB 使用基于计算机断层扫描的坐标测量技术对其进行测量。上图中的黄色 区域表示组件的虚拟部分


近年来,计算机断层扫描越来越多地用于工业工件内部和外部几何形状的尺寸测量。但是测量的质量和速度仍然阻碍了该技术的广泛应用。需要更快、更准确的技术,将产品尺寸和表面特征的测量与生产线中的 CT 集成。


这就是由欧盟资助并由 PTB 协调的欧洲研究项目AdvanCT(用于工业尺寸和表面测量的高级计算机断层扫描)的用武之地。在为期三年的项目过程中,可以显着提高 CT 测量的质量和速度。这包括将准确度提高 2 到 8 倍,并将测量时间缩短至几分钟。研究人员认为,这些进步将大大扩展 CT 技术的应用。


工业计算机断层扫描测量方法被研究人员改善了,将准确度提高了2-8倍


该项目的主要经济影响可能是加强先进精密零件和系统制造商的实力,例如汽车和医疗保健行业,这些行业需要先进的测量能力来进行质量控制和开发。此外,项目结果可以加强主要位于欧洲的 CT 系统制造商的市场地位。


PTB 在 AdvanCT 项目中的主要工作重点是:


– 开发校准 CT 系统的更好方法,以提高 CT 测量的准确性;


– 修正由 X 射线源和探测器中的影响引起的测量误差;


– 改进了测量自由形状和多材料物体的方法;


– 测量不确定度的改进估计。



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